Xina Anàlisi microestructural de materials

FIB i TEM avançats per a l'anàlisi d'hòsties
Els serveis avançats de preparació de mostres de FIB-nivell d'hòsties de procés i d'anàlisi TEM proporcionen solucions precises de preparació de mostres i d'anàlisi estructural per a xips de procés
Més
DB-FIB (feix d'ions enfocat de doble-feix)
GRGTEST Metrology ofereix serveis professionals d'anàlisi de feix d'ions enfocat de doble {-feix (DB-FIB). Els serveis de proves populars inclouen seccions de mostres TEM per a processos avançats (14
Més
Anàlisi i imatge TEM
La microscòpia electrònica de transmissió (TEM) s'ha convertit en un instrument analític indispensable en els camps dels materials i els semiconductors. És un instrument òptic d'electrons que
Més
Equips d'hòstia i imatge SEM
Els equips d'hòsties i els serveis d'imatge SEM són suports tecnològics clau per a la ciència dels materials, la indústria electrònica i la investigació biomèdica, i són especialment adequats per a
Més
Anàlisi AFM (Atomic Force Microscopy).
El microscopi de força atòmica Bruker Dimension ICON6 admet 12 modes, que inclouen contacte, punteig i punt de força màxima, per satisfer les necessitats de prova de diferents mostres i proporcionar
Més
Anàlisi d'Espectroscòpia Dispersiva d'Energia (EDS).
EDS significa espectròmetre dispersiu d'energia, que és un mètode d'anàlisi d'espectroscòpia dispersiva d'energia de raigs X-. El seu principi es basa en el fet que diferents elements emeten raigs
Més
PFIB (Feix d'ions enfocat al plasma)
Compared to traditional gallium-ion focused ion beam (Ga-FIB), PFIB utilizes a more powerful xenon (Xe) ion beam, achieving a maximum current of 2.5 μA at 30 keV energy, which increases its etching
Més

Som un proveïdor professional d'anàlisi microestructural de serveis de materials a la Xina, oferint els millors laboratoris i solucions. Si us plau, no dubti en contactar amb nosaltres per a la cotització.

Enviar la consulta

Anàlisi Microestructural de Materials